對于商用筆記本和平板電腦而言，品質(zhì)與耐用性的重要衡量標(biāo)準(zhǔn)就是“軍規(guī)”！筆記本與平板系列產(chǎn)品在設(shè)計(jì)之初就要充分考慮這些問題，從設(shè)計(jì)到用料都嚴(yán)格遵循軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)（通常指環(huán)境工程考察和實(shí)驗(yàn)室測試）。

其中，跌落測試就是重要測試項(xiàng)目之一。該測試模擬日常工作中不慎將筆記本/平板電腦跌落，在工作臺上被物體以加速形態(tài)沖撞，檢驗(yàn)產(chǎn)品抗意外沖擊能力。抗跌性能主要取決于最大應(yīng)力，而最大應(yīng)力與跌落的不同角度、高度、速度等因素有關(guān)。

高速DIC測量

新拓三維XTDIC-STROBE三維動(dòng)態(tài)測量系統(tǒng)搭配高速攝像機(jī)，DIC非接觸全場應(yīng)變測量，基于三維數(shù)字圖像相關(guān)法（DIC），能夠?qū)Φ湮矬w高速運(yùn)動(dòng)過程進(jìn)行高速圖像采集，可準(zhǔn)確測量產(chǎn)品跌落下的位移、時(shí)速、姿態(tài)、應(yīng)變力等數(shù)據(jù)。

XTDIC-STROBE三維動(dòng)態(tài)測量系統(tǒng)通過高速攝像機(jī)捕捉高速目標(biāo)運(yùn)動(dòng)過程，并跟蹤運(yùn)動(dòng)物體特征點(diǎn)，測量特定點(diǎn)的位移、速度、加速度等參數(shù)。

DIC非接觸全場應(yīng)變測量，利用DIC分析軟件計(jì)算產(chǎn)品跌落時(shí)的位移、應(yīng)變、加速度、空序位移變化，用響應(yīng)面來表示它們的相關(guān)關(guān)系，從而精準(zhǔn)分析產(chǎn)品跌落變形情況，評估筆記本/平板電腦包裝組件在跌落時(shí)所能承受的墜落高度及耐沖擊強(qiáng)度。

DIC非接觸應(yīng)變測量-筆記本電腦跌落測試

為了測試筆記本電腦抗跌、抗沖擊抗彎性能，某筆記本電腦廠商使用新拓三維XTDIC-STROBE三維動(dòng)態(tài)測量系統(tǒng)，搭配高速攝像機(jī)對筆記本電腦自由落體試驗(yàn)進(jìn)行拍攝，并采用DIC軟件對其跌落過程進(jìn)行運(yùn)動(dòng)、位移、應(yīng)變分析。

DIC非接觸全場應(yīng)變測量測試過程，需要觀察到筆記本電腦跌落至地面的整個(gè)過程，包括掉落后彈起的過程。高速攝像機(jī)穩(wěn)固架設(shè)向下傾斜以一定的角度拍攝跌落過程，使用光源正對物體，并調(diào)整鏡頭光圈和曝光時(shí)間，以便于采集到高質(zhì)量的跌落過程圖像。

Z方向位移場

跌落瞬態(tài)三維形貌變化

DIC非接觸全場應(yīng)變測量試驗(yàn)，可以清晰觀察到筆記本電腦跌落過程，同過DIC軟件分析筆記本電腦跌落過程的運(yùn)動(dòng)速度、位移和應(yīng)力參數(shù)變化。試驗(yàn)分析數(shù)據(jù)結(jié)果可幫助企業(yè)優(yōu)化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，提高其抗沖擊、抗彎性能。

DIC非接觸式應(yīng)變測量-平板電腦跌落測試

平板電腦在研發(fā)階段就需要進(jìn)行跌落測試，保證產(chǎn)品的質(zhì)量?？沟鴾y試可以了解跌落過程外殼結(jié)構(gòu)的變化，提高產(chǎn)品的抗跌落、抗沖擊能力。DIC非接觸全場應(yīng)變測量，進(jìn)行跌落瞬態(tài)變形、抗彎、抗跌測試，同時(shí)可以優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，降低結(jié)構(gòu)成本，減少實(shí)物樣機(jī)的數(shù)量。

但是這些破壞性試驗(yàn)，必須在產(chǎn)品試制成功后進(jìn)行，耗費(fèi)的時(shí)間和物力財(cái)力巨大。另外，我們在產(chǎn)品的實(shí)際跌落測試中，只能獲得有限數(shù)據(jù)信息，無法獲得空間和時(shí)間的連續(xù)結(jié)果，很難檢測到產(chǎn)品內(nèi)部的沖擊特性，很難觀測到整個(gè)物理樣機(jī)試驗(yàn)變化過程。

由于筆記本電腦都是薄壁結(jié)構(gòu)，跌落測試需要獲取全面的數(shù)據(jù)信息，以及空間和時(shí)間的連續(xù)結(jié)果，以便于分析平板電腦在跌落測試的沖擊特性，DIC非接觸全場應(yīng)變測量技術(shù)可觀測整個(gè)物理樣機(jī)試驗(yàn)變化過程。DIC全場測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是能夠選擇物體表面上所需點(diǎn)或區(qū)域的任何位置。

平板電腦跌落瞬態(tài)位移場變化過程

DIC非接觸全場應(yīng)變測量，通過DIC軟件分析，可以直觀地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品最大的變形區(qū)域和最大的應(yīng)力區(qū)域，通過對這些區(qū)域結(jié)構(gòu)的增強(qiáng)，可以有效減少跌落引起的結(jié)構(gòu)的破壞。

另外筆記本/平板電腦的屏對沖擊加速度非常敏感，過大的沖擊加速度可能會引起屏幕的破裂，通過對結(jié)構(gòu)緩沖的更新設(shè)計(jì)，可以有效的降低屏在跌落時(shí)候的沖擊加速度，提升屏的抗跌落性能。

采用DIC非接觸應(yīng)變測量技術(shù)，進(jìn)行3D電子產(chǎn)品-筆記本電腦/平板電腦跌落測試，通過DIC軟件分析輸出各種直觀的數(shù)據(jù)，云圖，曲線等，可以方便地發(fā)現(xiàn)最危險(xiǎn)的區(qū)域，幫助工程師做出正確的判斷。