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拍照式藍(lán)光3D掃描儀為何比手持激光細(xì)節(jié)還原度更好?

2024.08.07

拍照式藍(lán)光3D掃描儀為何比手持激光細(xì)節(jié)還原度更好?

新拓三維XTOM-MATRIX拍照式藍(lán)光3D掃描儀,采用500-900萬高分辨率工業(yè)相機(jī),可以高精細(xì)度還原零部件細(xì)節(jié)輪廓,獲取精確三維網(wǎng)格數(shù)據(jù),適用于小尺寸零部件3D全尺寸檢測。

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工業(yè)級(jí)藍(lán)光三維掃描儀為何數(shù)據(jù)質(zhì)量更高?

2024.08.01

工業(yè)級(jí)藍(lán)光三維掃描儀為何數(shù)據(jù)質(zhì)量更高?

工業(yè)級(jí)藍(lán)光三維掃描儀,采用工業(yè)級(jí)相機(jī)(500-900高分辨率),掃描采集數(shù)據(jù)質(zhì)量高效穩(wěn)定。同時(shí),藍(lán)光三維掃描軟件具備自我監(jiān)控能力,可實(shí)時(shí)對(duì)校準(zhǔn)狀態(tài)、拼接精度、環(huán)境振動(dòng)情況等進(jìn)行監(jiān)控,可獲取高質(zhì)量的測量數(shù)據(jù)。

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計(jì)量級(jí)藍(lán)光三維掃描儀結(jié)構(gòu)組成和3D掃描原理

2024.08.01

計(jì)量級(jí)藍(lán)光三維掃描儀結(jié)構(gòu)組成和3D掃描原理

計(jì)量級(jí)藍(lán)光三維掃描儀用于幾何公差分析,質(zhì)量檢測:生產(chǎn)線產(chǎn)品質(zhì)量控制和形位尺寸檢測,適合復(fù)雜曲面的小尺寸零部件檢測,可以檢測復(fù)雜零部件及鈑金件、鑄鍛件、沖壓件、模具、注塑件等產(chǎn)品。

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拍照式藍(lán)光三維掃描儀的關(guān)鍵技術(shù)有哪些?

2024.08.01

拍照式藍(lán)光三維掃描儀的關(guān)鍵技術(shù)有哪些?

拍照式藍(lán)光三維掃描儀由于已事先標(biāo)定兩臺(tái)工業(yè)相機(jī)和投影單元的相對(duì)位置及成像參數(shù),因此可組合出三組不同的重建視角。該技術(shù)在測量表面帶有反光、深孔或凹凸復(fù)雜物體時(shí)具有顯著優(yōu)勢,可使拍照式藍(lán)光三維掃描儀單幅測量數(shù)據(jù)更加完整、測量更加高效。

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探索永無止境l新拓三維XTDIC新產(chǎn)品視頻正式發(fā)布

2024.07.25

探索永無止境l新拓三維XTDIC新產(chǎn)品視頻正式發(fā)布

新拓三維發(fā)布XTDIC-CONST全場應(yīng)變測量產(chǎn)品視頻,基于持續(xù)研發(fā)DIC軟件功能和擴(kuò)充硬件,可測量振動(dòng)、材料和結(jié)構(gòu)變形、2D/3D運(yùn)動(dòng)軌跡測量 高應(yīng)變率、高速測試、振動(dòng)測量、FEA分析、裂紋擴(kuò)展、動(dòng)態(tài)測試。

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閃耀發(fā)布 先睹為快!新拓三維XTDIC新版畫冊正式發(fā)布

2024.07.16

閃耀發(fā)布 先睹為快!新拓三維XTDIC新版畫冊正式發(fā)布

新拓三維XTDIC三維全場應(yīng)變測量系統(tǒng)新版產(chǎn)品畫冊展示產(chǎn)品型號(hào)介紹及選型指南,包括全場應(yīng)變、特征跟蹤、材料測試三大類別、7款主要產(chǎn)品,為不同應(yīng)用場景提供測量解決方案。

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幾何公差專題第六講:GD&T技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范

2024.07.05

幾何公差專題第六講:GD&T技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范

新拓三維藍(lán)光三維掃描儀用于幾何公差分析:講解GD&T的定義、使用范疇,GD&T技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范,國內(nèi)GD&T標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀,以及制造工藝工程師對(duì)制造工藝、測量工程師對(duì)測量方法的合理選擇。

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幾何公差專題第五講:尺寸公差和形位公差的關(guān)系

2024.06.13

幾何公差專題第五講:尺寸公差和形位公差的關(guān)系

分享拍照式藍(lán)光三維掃描儀在幾何尺寸和公差(GD&T)分析中的應(yīng)用。介紹尺寸公差和形位公差的關(guān)系,分享公差原則知識(shí):包括獨(dú)立原則、相關(guān)原則、公差原則的選擇。

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非接觸式dic應(yīng)變測量系統(tǒng)位移精度驗(yàn)證

2024.06.06

非接觸式dic應(yīng)變測量系統(tǒng)位移精度驗(yàn)證

高校/科研機(jī)構(gòu)、試驗(yàn)機(jī)廠商,對(duì)于DIC測量精度、穩(wěn)定性有著嚴(yán)苛的要求。選購DIC全場應(yīng)變測量系統(tǒng),都要對(duì)其進(jìn)行位移精度驗(yàn)證。采用實(shí)驗(yàn)演示的方式,教大家快速對(duì)DIC全場應(yīng)變測量設(shè)備進(jìn)行精度驗(yàn)證。

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