為了給大家介紹制造業(yè)中的公差與測量知識，接下來小編將推送系列專題文章，共同學(xué)習(xí)與探索形位公差知識、標(biāo)注方法、尺寸公差與形位公差、GD&T技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范等，并分享計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析實踐中的應(yīng)用。
小編將在本文為您提供相關(guān)信息，幫助您了解以下問題：
尺寸公差的定義與影響、尺寸公差表示方法、尺寸公差與配合、配合制
在制造過程中，尺寸公差和配合是至關(guān)重要的。它們直接影響著零件的互換性和裝配的順利進行。計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析中的應(yīng)用，讓我們深入了解這些概念，以及它們對制造的重要性。
尺寸公差：定義與影響
尺寸公差是制造過程中允許的尺寸變化范圍，確保零件的裝配性和功能性。合適的尺寸公差直接影響著零件的互換性和裝配的順利進行。
如圖1展示了軸的常見尺寸公差標(biāo)注方法，其中+0.3表示軸的上極限偏差，故最大極限尺寸為20.2，-0.1表示軸的下極限偏差，故最小極限尺寸為19.8，其尺寸公差為+0.4。
圖 1 尺寸公差標(biāo)注示例
尺寸公差表示方法
工程中，為了更加直觀的表達(dá)尺寸公差，提出了公差帶圖，工程帶圖由零線及尺寸公差帶組成。計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析中的應(yīng)用，如圖2為常見的尺寸公差帶表示示意圖。
圖 2 公差帶圖示意圖
尺寸公差與配合
不同類型的配合（間隙配合、過盈配合和過渡配合）直接決定了零件之間的松緊程度和配合關(guān)系。計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析中的應(yīng)用，合適的配合能夠確保零件功能的正常發(fā)揮。
圖 3 間隙配合公差帶情況
1）間隙配合
間隙配合通常用于配合要求相對較寬松、需要允許一定的相對運動或者需要便于安裝和拆卸的情況。計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析中的應(yīng)用，例如，機械裝配中的軸承與軸承滾珠的配合，如圖4所示，如果要求軸能夠在孔內(nèi)旋轉(zhuǎn)或者移動，就需要給予適當(dāng)?shù)拈g隙。
圖 4 間隙配合案例
2）過盈配合
具有過盈的配合(包括過盈為零)稱為過盈配合，過盈配合公差帶情況如圖5所示。
圖 5 過盈配合公差帶情況
過盈配合通常用于需要強固固定或傳遞力矩、扭矩等的場合，以確保零件之間的緊密連接。計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析中的應(yīng)用，例如，機械裝配中的軸與軸套的配合如圖 6所示，如果要求在負(fù)載作用下不出現(xiàn)相對移動，就需要采用過盈配合。
圖 6 過盈配合案例
3）過渡配合
可能具有間隙，可能具有過盈(針對大批零件而言)的配合稱為過渡配合，過渡配合公差帶情況如圖 7所示，
圖 7 過渡配合公差帶情況
過渡配合通常用于要求相對穩(wěn)定但又需要一定的拆卸或者調(diào)整余地的情況。這種配合可以兼顧一定的緊固性和便利性。計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析中的應(yīng)用，例如，汽車活塞與汽缸套之間的配合是一個典型的過渡配合的例子，如圖 8所示?；钊c汽缸套之間需要既有一定的間隙以確?；钊谄變?nèi)的自由運動，又需要有一定的緊密度以保證壓縮氣體不會泄漏。
圖 8 過渡配合案例
配合制
配合制是同一極限制的孔和軸組成配合的一種制度，也叫基準(zhǔn)制。GB/T 1800.1—1997 規(guī)定了兩種平行的配合制：基孔制配合和基軸制配合。
1）基孔制
是指基本偏差為一定的孔的公差帶與不同基本偏差的軸的公差帶形成各種配合的一種制度，如圖 9所示
圖 9 基孔制配合
2）基軸制
基軸制是基本偏差為一定的軸的公差帶，與不同基本偏差的孔的公差帶形成各種配合的一種制度，如圖 10所示。
圖 10 基軸制配合
結(jié)語
尺寸公差和配合是制造過程中不可或缺的關(guān)鍵因素，直接影響著產(chǎn)品的質(zhì)量和裝配的可行性。計量級藍(lán)光三維掃描儀在公差分析中的應(yīng)用，深入了解這些概念對于提高制造效率和產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。
希望這篇科普能夠幫助您更好地理解尺寸公差與配合的重要性。計量級藍(lán)光三維掃描儀在幾何公差分析中的應(yīng)用，如果您對此有任何疑問或想要了解更多信息，歡迎留言交流！