新拓三維XTOM高精度藍光三維掃描儀，采用藍光光柵投射技術(shù)進行三維掃描，適用于曲面天線等復(fù)雜幾何形狀的全尺寸幾何公差分析。

以下是關(guān)于XTOM-MATRIX-5M高精度藍光三維掃描儀在曲面天線全尺寸幾何公差分析中的應(yīng)用：

曲面天線3D掃描是一項高精度的測量工作，若拋物線天線在制造過程中產(chǎn)生偏差，將直接影響信息接收程度，拋物線天線的全尺寸檢測非常關(guān)鍵。天線曲面形狀，人工難以進行測量，無法獲取完整、精確的三維數(shù)據(jù)以判斷產(chǎn)品質(zhì)量。

高精度藍光3D掃描儀的使用，可輕松獲取曲面天線全尺寸的準(zhǔn)確3D數(shù)據(jù)模型，克服了這一檢測難點。

在拋物面天線檢測中，其對于精度要求高，采用藍光三維掃描技術(shù)進行多角度掃描，以保證獲取完整的3D形貌數(shù)據(jù)，這對于天線的設(shè)計優(yōu)化、制造質(zhì)量控制以及性能測試都至關(guān)重要。

下圖為采用新拓三維XTOM-5M藍光三維掃描儀多角度掃描獲取的曲面天線3D數(shù)據(jù)模型。

3D全尺寸檢測：在拋物面天線的檢測過程中，有兩個重要檢測項目，其一為尺寸偏差，另一項為檢測天線的RMS（均方根）。將曲面天線掃描3D數(shù)模與設(shè)計數(shù)據(jù)導(dǎo)入檢測軟件，進行曲面數(shù)據(jù)的3D比較分析，產(chǎn)品尺寸偏差是否符合要求一目了然。

將三維掃描測得的數(shù)據(jù)進行RMS分析（在物理學(xué)中常用RMS值來分析噪聲，通過RMS分析，可推演天線的性能）。

XTOM高精度3D掃描儀適用于曲面輪廓多樣的天線幾何公差分析，它可以實現(xiàn)精確的3D全尺寸偏差分析，通過與設(shè)計模型進行對比，優(yōu)化天線設(shè)計和提升產(chǎn)品質(zhì)量。藍光三維掃描技術(shù)有助于在在曲面上實現(xiàn)高性能三維曲面電子器件的制造，包括球形天線等，提高曲面天線的制造精度和性能。